Sep 22, 2009 19:31
14 yrs ago
English term
probe pad
English to Hungarian
Tech/Engineering
Electronics / Elect Eng
Elektronikai eszközök felsorolása
Proposed translations
(Hungarian)
5 +3 | teszt érintkező | Attila Széphegyi |
4 | tesztelési érintkező szigetek | Katalin Szilárd |
Proposed translations
+3
11 hrs
Selected
teszt érintkező
Tesztelési célokra létesített csatlakozási lehetőség:
„SMD Circuit Probe Pad
...
Avoid damage to sensitive tiny electronic circuits by incorporating these probe pads in the circuitry.”
--------------------------------------------------
Note added at 11 óra (2009-09-23 06:58:23 GMT)
--------------------------------------------------
Félvezetők esetében:
„1. A probe pad on a semiconductor circuit for electric characteristic measurement, wherein the probe pad electrically connects the semiconductor circuit for electriccharacteristic measurement, and an entirety of the probe pad has a mark-shape contour to indicate the relative location of the probe pad on the semiconductor circuit.”
http://www.patentstorm.us/patents/7211904/claims.html
--------------------------------------------------
Note added at 11 óra (2009-09-23 06:59:39 GMT)
--------------------------------------------------
Ez pedig egy mérőcsúcs (probe), melyet a teszt érintkezőre tehetnek:
„SMD mérőcsúcs banán aljzattal fekete (25373FK)”
http://www.kerszolg.online-boltok.hu/index.php?page=shop.pro...
--------------------------------------------------
Note added at 22 óra (2009-09-23 17:55:48 GMT)
--------------------------------------------------
Itt a pad valóban forrszemet jelent (rögzített kötés esetén):
„Forrszem és vezetőszál (pad & track) professzionális javítása”
http://tech-solv.com/index.php?p=1&lang=1
„SMD Circuit Probe Pad
...
Avoid damage to sensitive tiny electronic circuits by incorporating these probe pads in the circuitry.”
--------------------------------------------------
Note added at 11 óra (2009-09-23 06:58:23 GMT)
--------------------------------------------------
Félvezetők esetében:
„1. A probe pad on a semiconductor circuit for electric characteristic measurement, wherein the probe pad electrically connects the semiconductor circuit for electriccharacteristic measurement, and an entirety of the probe pad has a mark-shape contour to indicate the relative location of the probe pad on the semiconductor circuit.”
http://www.patentstorm.us/patents/7211904/claims.html
--------------------------------------------------
Note added at 11 óra (2009-09-23 06:59:39 GMT)
--------------------------------------------------
Ez pedig egy mérőcsúcs (probe), melyet a teszt érintkezőre tehetnek:
„SMD mérőcsúcs banán aljzattal fekete (25373FK)”
http://www.kerszolg.online-boltok.hu/index.php?page=shop.pro...
--------------------------------------------------
Note added at 22 óra (2009-09-23 17:55:48 GMT)
--------------------------------------------------
Itt a pad valóban forrszemet jelent (rögzített kötés esetén):
„Forrszem és vezetőszál (pad & track) professzionális javítása”
http://tech-solv.com/index.php?p=1&lang=1
Peer comment(s):
agree |
hollowman2
4 hrs
|
Köszönöm.
|
|
agree |
Balázs Sudár
11 hrs
|
Köszönöm.
|
|
agree |
Peter Szabo (X)
4 days
|
4 KudoZ points awarded for this answer.
Comment: "Selected automatically based on peer agreement."
20 hrs
tesztelési érintkező szigetek
http://www.deltaline.hu/bgarework.htm
" A túl keskenyre hagyott érintkező sziget (ú.n pad) a nyákon, felszakad a hordozóról és elszakad."
Ezek "érkezési területek" az áramköri tesztlapon/lapkán/kártyán.
"Probing pads are the landing sites for the measuring probe. They are larger and further apart than bonding pads. "
http://www.ece.ubc.ca/~dho/Files/496_report.pdf
http://www.multiprobe.com/technology/technologyassets/Infine...
--------------------------------------------------
Note added at 22 hrs (2009-09-23 18:11:33 GMT)
--------------------------------------------------
http://www.eu.necel.com/_pdf/AN-RQC-REP013V20.PDF
http://dspace.kaist.ac.kr/bitstream/10203/681/1/40.pdf
--------------------------------------------------
Note added at 22 hrs (2009-09-23 18:14:18 GMT)
--------------------------------------------------
http://www.vicsys.hu/files/sp5_alkoto-s_programleirasa-11_ha...
http://itl7.elte.hu/bscalab/0/a0.pdf
" A túl keskenyre hagyott érintkező sziget (ú.n pad) a nyákon, felszakad a hordozóról és elszakad."
Ezek "érkezési területek" az áramköri tesztlapon/lapkán/kártyán.
"Probing pads are the landing sites for the measuring probe. They are larger and further apart than bonding pads. "
http://www.ece.ubc.ca/~dho/Files/496_report.pdf
http://www.multiprobe.com/technology/technologyassets/Infine...
--------------------------------------------------
Note added at 22 hrs (2009-09-23 18:11:33 GMT)
--------------------------------------------------
http://www.eu.necel.com/_pdf/AN-RQC-REP013V20.PDF
http://dspace.kaist.ac.kr/bitstream/10203/681/1/40.pdf
--------------------------------------------------
Note added at 22 hrs (2009-09-23 18:14:18 GMT)
--------------------------------------------------
http://www.vicsys.hu/files/sp5_alkoto-s_programleirasa-11_ha...
http://itl7.elte.hu/bscalab/0/a0.pdf
Peer comment(s):
disagree |
Attila Széphegyi
: Az érintkező szigettel nem találkoztam, de nem is hiányzik mivel a forrszem vagy direk érintkező kifejezéseket használják általában (nyomtatott áramkörnél). A forrszem csupán arra való, hogy beleforrasztanak egy vezetéket, pl jumper stb.
1 hr
|
A forrszemek (azaz érintkező felülelet) összekapcsolódási területe a sziget. Lehetne forrszem-sziget (vagy forr-sziget) is: http://www.vicsys.hu/files/sp5_alkoto-s_programleirasa-11_ha... http://itl7.elte.hu/bscalab/0/a0.pdf
|
|
agree |
Peter Szabo (X)
4 days
|
Discussion
"Probing pads are the landing sites for the measuring probe. They are larger and further apart than bonding pads. "
http://www.ece.ubc.ca/~dho/Files/496_report.pdf
http://www.multiprobe.com/technology/technologyassets/Infine...